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ceyear思仪6362C光谱分析仪

简要描述:

ceyear思仪6362C光谱分析仪采用先进的双通光栅分光单元、高分辨率衍射光栅定位、光学楔形延迟消偏振、小信号和宽波段光谱检测等技术研制而成。整机性能指标达到国际同类产品先进水平。

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ceyear思仪6362C光谱分析仪

产品综述

ceyear思仪6362C光谱分析仪

6362C光谱分析仪采用先进的双通光栅分光单元、高分辨率衍射光栅定位、光学楔形延迟消偏振、小信号和宽波段光谱检测等技术研制而成。整机性能指标达到国际同类产品先进水平。适用于600~1700nm波段范围的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纤、光纤光栅、光学滤波器、光纤放大器、波分复用器等光电子元器件及有关系统的测试。

功能特点

主要特点

● 0.05nm最小分辨带宽

● -90 dBm电平测量灵敏度 

● ndB损耗分析

● 包络分析

● 测试数据存储输出

● 激光光源测试

● 光学滤波器测试

ceyear思仪6362C光谱分析仪

0.05nm最小分辨带宽

    6362C光谱分析仪支持不同光谱分辨带宽的设置,宽谱光源与窄谱线光源测试灵活切换。并且最小分辨带宽可达0.05nm。

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-90 dBm电平测量灵敏度 

通过低噪声放大、杂散光抑制、数字滤波等技术,极大地降低了仪器噪声,提高了信噪比,电平测量灵敏度在1250nm~1600nm波段优于-90dBm。

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ndB损耗分析

产品具有强大的分析功能,快速分析光谱参数,仪器自身就能完成复杂的计算。分析功能包括波峰检索、阈值分析、损耗分析、边模分析、包络分析、均方根和光功率分析等,满足您的全部需求。

 

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包络分析

 

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测试数据存储输出

光谱测试数据可用.bmp或.osd格式文件存储和输出。

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激光光源测试

仪器可以对多类型激光器进行一键测试与分析,实现所有测试项目批处理。

 

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光学滤波器测试

除了半导体激光光源(DFB-LD、FP-LD、LED)光谱测量应用外,仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用、光纤放大器应用、LD模块应用、波分复用滤波器应用、波分复用光纤放大器应用等光谱应用功能。

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典型应用

LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光谱波形分析

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