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吉时利Keithley 4200A-SCS参数分析仪加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内*性能参数分析仪，提供同步电流-电压 （I-V）、电容-电压 （C-V） 和超快脉冲 I-V 测量。
吉时利Keithley 4200A-SCS参数分析仪特点：
大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界*）可提供测试指南并让您对结果充满信心。
简单地说，4200A-SCS 可以*自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
吉时利Keithley 4200A-SCS参数分析仪参数：
直流电流-电压(I-V) 范围 10 aA - 1A 0.2 µV - 210 V
电容-电压(C-V) 范围 1 kHz - 10 MHz ± 30V 直流偏置
脉冲 I-V范围 ±40 V (80 V p-p)，±800 mA 200 MSa/s，5 ns 采样率
1.型号：4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件
210V/100mA，0.1 fA 分辨率
对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
2.型号：4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件
210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
3.型号：4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件
210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4.4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件
用于使用 CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：
